ЗАКОН УКРАИНЫ

от 5 ноября 1997 года №621/97-ВР

Об охране прав на топографии интегральных микросхем

Настоящий Закон регулирует отношения, возникающие в связи с приобретением и реализацией права собственности на топографии интегральных микросхем в Украине.

Раздел I ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ

Статья 1. Определение терминов

В настоящем Законе приведенные ниже термины употребляются в следующем значении:

Учреждение - центральный орган исполнительной власти по вопросам правовой охраны интеллектуальной собственности;

Апелляционная палата - коллегиальный орган Учреждения для рассмотрения возражений против решений Учреждения о приобретении прав на объекты интеллектуальной собственности и других вопросов, отнесенных к ее компетенции настоящим Законом;

интегральная микросхема (ИМС) - микроэлектронное изделие конечной или промежуточной формы, предназначенное для выполнения функций электронной схемы, элементы и соединения которого нераздельно сформированы в объеме и (или) на поверхности материала, являющегося основой такого изделия, независимо от способа его изготовления;

топография ИМС - зафиксированное на материальном носителе пространственно-геометрическое размещение совокупности элементов интегральной микросхемы и соединений между ними;

автор - физическое лицо, творческим трудом которого создана топография ИМС;

свидетельство - документ, который подтверждает регистрацию Учреждением топографии ИМС и удостоверяет исключительное право собственности на эту топографию ИМС;

Реестр - Государственный реестр Украины топографий ИМС;

зарегистрированная топография ИМС - топография ИМС, сведения о которой занесены в Реестр и на которую выдано свидетельство;

лицо - физическое или юридическое лицо;

заявка - совокупность документов, необходимых для регистрации топографии ИМС и выдачи свидетельства;

заявитель - лицо, которое подало заявку на регистрацию топографии ИМС либо приобрело права заявителя в другом установленном законом порядке;

дата первого использования топографии ИМС - дата, когда использование топографии ИМС стало известным в области микроэлектроники;